自動化不銹鋼(gang)管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)是(shi)磁(ci)(ci)場(chang)傳感器(qi)的載體和組(zu)合，是(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測信號的收集器(qi)。隨(sui)著(zhu)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測應用的不(bu)斷(duan)深入(ru)和檢(jian)(jian)測要求的逐步提高，除了磁(ci)(ci)化(hua)問題，另一個核心就(jiu)是(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)的設計(ji)。若探(tan)頭(tou)性能不(bu)好或者(zhe)不(bu)合適，則(ze)會出現(xian)漏(lou)判(pan)或者(zhe)誤判(pan)，嚴重影響漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測的可靠(kao)性。
另一(yi)方面，沒(mei)有(you)一(yi)種探(tan)(tan)頭(tou)是萬(wan)能(neng)的(de)(de)。由于(yu)自(zi)然(ran)缺陷的(de)(de)形態(tai)千(qian)變(bian)萬(wan)化，檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭(tou)必然(ran)存在局限性(xing)，漏判(pan)或誤判(pan)的(de)(de)情況(kuang)在檢(jian)(jian)測實踐中時有(you)發生(sheng)。下面對檢(jian)(jian)測探(tan)(tan)頭(tou)的(de)(de)內部結構和檢(jian)(jian)測特性(xing)進行分析。
一(yi)、漏磁(ci)檢測探頭的結構(gou)形式
目(mu)前(qian)，最具代表性的不(bu)銹(xiu)鋼管漏磁(ci)檢測傳感(gan)器有(you)兩種(zhong)：霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件和感(gan)應線圈，尤其是集成霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件和光刻(ke)平(ping)面線圈。為(wei)了(le)獲得較高的磁(ci)場測量(liang)空間分(fen)辨力(li)和相對寬廣的掃查范圍(wei)，檢測探頭芯結(jie)構有(you)多種(zhong)形式。
1. 點(dian)(dian)檢(jian)測(ce)形式 在檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)中(zhong)，對某一點(dian)(dian)上或微(wei)小區域的漏磁場測(ce)量，并(bing)且每個測(ce)點(dian)(dian)對應于一個獨立的信號通道，如圖3-6a所示(shi)，以下簡稱為點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)。很明(ming)顯，點(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)中(zhong)每個點(dian)(dian)能夠(gou)掃查的檢(jian)測(ce)范圍(wei)很小，但空間(jian)分(fen)辨(bian)力高(gao)，如單個霍爾元件的敏(min)感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)線圈也可做到φ1mm內(nei)。
2. 線(xian)檢(jian)測形式(shi) 在檢(jian)測探頭中，對一條線(xian)上的(de)(de)漏(lou)磁(ci)場進(jin)行綜合測量，如圖3-6b所示，以下簡稱為線(xian)檢(jian)探頭。例(li)如，用(yong)(yong)感應(ying)線(xian)圈檢(jian)測時(shi)，將線(xian)圈做成條狀，則(ze)它感應(ying)的(de)(de)是(shi)線(xian)圈掃查(cha)路徑對應(ying)空間(jian)范(fan)圍(wei)內的(de)(de)漏(lou)磁(ci)通(tong)的(de)(de)變(bian)化。用(yong)(yong)霍爾元件檢(jian)測時(shi)，采用(yong)(yong)線(xian)陣排列，將多個(ge)元件檢(jian)測信號用(yong)(yong)加法器疊加后輸出單個(ge)通(tong)道(dao)信號，則(ze)該信號反映的(de)(de)是(shi)霍爾元件線(xian)陣長度(du)內的(de)(de)磁(ci)感應(ying)強度(du)的(de)(de)平(ping)均(jun)值。
在漏(lou)磁檢測中(zhong)，上(shang)述(shu)兩(liang)種(zhong)形(xing)式是最基本(ben)的(de)形(xing)式，由(you)此可以組合成多(duo)種(zhong)形(xing)式的(de)探頭(tou)，如圖3-6c所示的(de)平面內的(de)面陣列探頭(tou)，以及圖3-6d所示的(de)多(duo)個平面上(shang)的(de)立體(ti)陣列探頭(tou)。
二、漏磁(ci)檢測探頭的檢測特性
1. 缺陷類型
不銹鋼管在進(jin)行漏磁檢測方法和設(she)備的(de)考核時，常采用機加工或電火花方式刻制標準人工缺陷(xian)(xian)，自然缺陷(xian)(xian)可表達成它們的(de)組合形式。為便(bian)于分析(xi)和精確評估，將(jiang)標準缺陷(xian)(xian)分成下列三類(lei)。
（1）點(dian)狀缺陷(xian) 點(dian)狀缺陷(xian)的(de)(de)面積(ji)小(xiao)，集中(zhong)在一(yi)點(dian)或小(xiao)圈內，如(ru)標準缺陷(xian)里的(de)(de)通孔(kong)，自然(ran)缺陷(xian)里的(de)(de)蝕坑、斑點(dian)、氣孔(kong)等，它們(men)產生(sheng)的(de)(de)漏(lou)磁場(chang)是(shi)一(yi)個(ge)集中(zhong)的(de)(de)點(dian)團狀場(chang)，分布范(fan)圍小(xiao)。
（2）線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian) 線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)寬長比很小(xiao)，形(xing)(xing)成(cheng)一(yi)條線(xian)，如標(biao)準缺陷(xian)里的(de)矩形(xing)(xing)刻槽(cao)、自然缺陷(xian)里的(de)裂紋等，它們產生的(de)漏磁場(chang)是沿線(xian)條的(de)帶狀(zhuang)場(chang)。
（3）體狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)(xian) 體狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)長、寬、深(shen)尺寸均較大，形成坑或窩，如(ru)標準缺陷(xian)(xian)中的(de)(de)大不通孔(kong)、自然缺陷(xian)(xian)里的(de)(de)片(pian)狀(zhuang)(zhuang)腐蝕等，它們產生的(de)(de)漏(lou)磁(ci)場(chang)分布范圍廣(guang)。
2. 不同結構探(tan)頭的檢測特(te)性
不(bu)銹(xiu)鋼管在漏磁檢(jian)(jian)測中，特別要強調空間(jian)和方(fang)(fang)(fang)向的(de)概(gai)念。因為，漏磁場是(shi)空間(jian)場，且具(ju)有(you)方(fang)(fang)(fang)向性；漏磁檢(jian)(jian)測信號是(shi)時間(jian)域的(de)，且沒有(you)相位信息(xi)；不(bu)僅(jin)檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)具(ju)有(you)敏感方(fang)(fang)(fang)向，而且檢(jian)(jian)測探(tan)頭(tou)的(de)掃查(cha)路(lu)徑也具(ju)有(you)方(fang)(fang)(fang)向性，不(bu)同方(fang)(fang)(fang)向均會對檢(jian)(jian)測信號及其特征產生影響。
另一方面，應(ying)(ying)(ying)該特別注(zhu)意缺(que)陷漏磁(ci)(ci)場的(de)(de)(de)表征形(xing)式，在這里，漏磁(ci)(ci)場強度和(he)漏磁(ci)(ci)場梯度存在著本質的(de)(de)(de)不同。霍(huo)爾(er)(er)元件和(he)感應(ying)(ying)(ying)線(xian)(xian)圈兩(liang)種(zhong)器件的(de)(de)(de)應(ying)(ying)(ying)用也有著根本的(de)(de)(de)區別。霍(huo)爾(er)(er)元件可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)空(kong)間某點上的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)場強度，而感應(ying)(ying)(ying)線(xian)(xian)圈卻無法實現；感應(ying)(ying)(ying)線(xian)(xian)圈感應(ying)(ying)(ying)的(de)(de)(de)是(shi)空(kong)間一定范(fan)圍(wei)(wei)內的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)的(de)(de)(de)變(bian)化程度，相反，霍(huo)爾(er)(er)元件不可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)磁(ci)(ci)通量(liang)的(de)(de)(de)變(bian)化，它測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)是(shi)一定空(kong)間范(fan)圍(wei)(wei)內的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)感應(ying)(ying)(ying)強度的(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一(yi)分析兩種基本探頭(tou)形(xing)式對不同類型缺陷的檢測信號特性。
a. 點檢探頭的信號特性(xing)
點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭測量(liang)的(de)是(shi)空(kong)間某(mou)點(dian)上的(de)漏磁(ci)感應(ying)強度(du)或磁(ci)通(tong)量(liang)的(de)變化。點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭對(dui)點(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)(jian)測是(shi)“針尖對(dui)麥芒”，空(kong)間相對(dui)位(wei)置的(de)微小變化，均有可能引起檢(jian)(jian)(jian)測信(xin)號(hao)幅度(du)的(de)波動。點(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)漏磁(ci)場分(fen)布是(shi)尖峰狀的(de)，當點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭正對(dui)峰頂時，信(xin)號(hao)幅度(du)最大，偏離(li)時信(xin)號(hao)幅度(du)將急劇(ju)下降。因此，用點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭去檢(jian)(jian)(jian)測點(dian)狀缺(que)陷(xian)時將會產生不穩定的(de)信(xin)號(hao)，導致誤判(pan)或漏判(pan)。進行(xing)檢(jian)(jian)(jian)測設備標定時，也難(nan)將各通(tong)道(dao)的(de)靈(ling)敏(min)度(du)調整到一致。
點(dian)檢探頭檢測(ce)線狀缺(que)陷時，很容易掃查到線狀缺(que)陷產(chan)生的(de)“山脈”狀漏磁場的(de)某一(yi)個縱斷面，檢測(ce)信(xin)號(hao)幅度將(jiang)正(zheng)比于(yu)線狀缺(que)陷的(de)深度。當線狀缺(que)陷長度大于(yu)一(yi)定值時，設備標定或檢測(ce)信(xin)號(hao)的(de)一(yi)致性(xing)和穩定性(xing)均較好(hao)。
b. 線(xian)檢探頭的信號特性
線檢(jian)探頭(tou)測量(liang)的(de)(de)(de)是(shi)探頭(tou)長度(du)范(fan)圍(wei)內的(de)(de)(de)平均磁感應強度(du)或磁通量(liang)的(de)(de)(de)變化。與(yu)點檢(jian)探頭(tou)相比，線檢(jian)探頭(tou)的(de)(de)(de)輸(shu)出信號(hao)特性不但與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)深(shen)(shen)度(du)有(you)關(guan)，而且與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)長度(du)有(you)關(guan)，最終(zhong)與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)缺(que)(que)失的(de)(de)(de)截面積成(cheng)比例。這類探頭(tou)不能直接獲得與(yu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)深(shen)(shen)度(du)相關(guan)的(de)(de)(de)信息，因為長而淺的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)與(yu)短而深(shen)(shen)的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)在檢(jian)測信號(hao)幅度(du)上有(you)可能是(shi)一樣的(de)(de)(de)。
線檢(jian)探頭對點狀缺陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)是“滴水不漏(lou)”。由于線檢(jian)探頭的(de)(de)長(chang)度(du)遠大于點狀缺陷的(de)(de)長(chang)度(du)，在檢(jian)測(ce)路徑上，缺陷相對于探頭位置變化時，不會影響檢(jian)測(ce)信號的(de)(de)幅度(du)，因而(er)一致性較好。
線(xian)檢探頭檢測線(xian)狀缺陷時，情況(kuang)較為(wei)復雜(za)，探頭與缺陷的長度比以及位置關(guan)系(xi)均會影響(xiang)信號幅值。下(xia)面(mian)舉例分(fen)析。
如圖3-7a所示，用(yong)(yong)有效長度(du)為25mm的(de)(de)線(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)檢(jian)(jian)測(ce)25mm長的(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當探(tan)頭(tou)(tou)(tou)正對刻(ke)槽(cao)時，獲(huo)得最大的(de)(de)信號幅(fu)值；當探(tan)頭(tou)(tou)(tou)與刻(ke)槽(cao)的(de)(de)位(wei)置錯開(kai)時，信號幅(fu)值將隨著探(tan)頭(tou)(tou)(tou)與缺陷交叉重疊程度(du)的(de)(de)減小而(er)減弱，此種狀態(tai)對檢(jian)(jian)測(ce)是不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是設備標定(ding)還是檢(jian)(jian)測(ce)應(ying)用(yong)(yong)均很(hen)難獲(huo)得一(yi)致的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)信號。圖3-7中左邊的(de)(de)粗線(xian)(xian)段為線(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)，中間的(de)(de)細線(xian)(xian)段為不(bu)同位(wei)置的(de)(de)線(xian)(xian)狀缺陷，右邊為不(bu)同探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)信號幅(fu)度(du)。為實(shi)現線(xian)(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)一(yi)致性檢(jian)(jian)測(ce)，有如下兩(liang)種做法：
①. 減小線(xian)檢探頭(tou)的有效長度，讓(rang)它(ta)小于或等于線(xian)狀缺(que)陷(xian)長度的一(yi)半，同時(shi)將相鄰檢測探頭(tou)按50％重疊布置，如(ru)圖3-7b所(suo)示(shi)。可(ke)以(yi)看出，不論缺(que)陷(xian)從哪個路徑通過探頭(tou)陣列，均可(ke)在某一(yi)檢測單元(yuan)中(zhong)獲得(de)一(yi)個最大(da)的信號(hao)幅值，而(er)在其(qi)他檢測單元(yuan)中(zhong)得(de)到較小的信號(hao)幅值。
此時，由(you)于線狀缺(que)陷(xian)長(chang)度(du)遠大于探(tan)(tan)頭(tou)(tou)長(chang)度(du)，檢測(ce)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)測(ce)量(liang)的是漏磁場(chang)“山脈”中的某一(yi)段，如果線狀缺(que)陷(xian)深度(du)一(yi)致，它可以(yi)直接反映出深度(du)信(xin)息。將線檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的長(chang)度(du)再不斷(duan)縮小，線檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)則變成點檢探(tan)(tan)頭(tou)(tou)。此時，在(zai)采(cai)用(yong)標準人工缺(que)陷(xian)進行設備(bei)標定時，任何狀態均可得到一(yi)致的檢測(ce)信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢測(ce)(ce)方法測(ce)(ce)量的是線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian)的平均磁感應強度，因(yin)而(er)，它反映不了線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian)的深度信息。當(dang)缺陷(xian)的長度逐漸減小時，則轉(zhuan)變成線(xian)檢探頭對點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的檢測(ce)(ce)。
3. 面向對象的(de)檢測探頭設(she)計和選用
在(zai)漏磁檢測中，應該根據具體的檢測要求來設計(ji)和選擇合適的探(tan)頭芯(xin)結(jie)構，下面給(gei)出(chu)幾種探(tan)頭設計(ji)和選用原則。
a. 缺(que)陷(xian)的(de)(de)深度檢測(ce)(ce)應該選擇點檢探(tan)頭 點檢探(tan)頭反映的(de)(de)是(shi)局部磁感應強度或其(qi)變化。當(dang)裂紋較長時(shi)，測(ce)(ce)點相當(dang)于對無限長矩形槽的(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點的(de)(de)信號(hao)幅度與缺(que)陷(xian)深度密切相關(guan)。但是(shi)，當(dang)線狀缺(que)陷(xian)越來(lai)越短時(shi)，測(ce)(ce)量的(de)(de)誤差(cha)也就越來(lai)越大，特別地，對點狀缺(que)陷(xian)的(de)(de)深度探(tan)測(ce)(ce)幾乎不可(ke)能。
在鋼(gang)管漏磁(ci)檢測(ce)校樣過程中(zhong)，一(yi)般均(jun)以通孔(kong)(kong)(kong)作(zuo)為(wei)標(biao)定試樣上的標(biao)準(zhun)缺陷，這(zhe)樣，大、小孔(kong)(kong)(kong)的深度一(yi)致，孔(kong)(kong)(kong)徑(jing)(jing)尺寸(cun)反映出缺失截面積的線性變(bian)化，因而，漏磁(ci)磁(ci)通量也(ye)將發生(sheng)線性變(bian)化。對于(yu)不(bu)通孔(kong)(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)(kong)的深度和直徑(jing)(jing)均(jun)為(wei)變(bian)量時，僅通過尋(xun)找孔(kong)(kong)(kong)深與(yu)孔(kong)(kong)(kong)徑(jing)(jing)的乘(cheng)積與(yu)信(xin)號幅度關系去反演或(huo)推(tui)算深度是不(bu)可能(neng)的。這(zhe)也(ye)是僅采用漏磁(ci)方法進行檢測(ce)的不(bu)足。
b. 缺陷的(de)損失截(jie)面積檢(jian)(jian)(jian)測(ce)應(ying)該選擇線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭 線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭的(de)信號幅度與(yu)缺陷損失的(de)截(jie)面積成比例，因(yin)而有(you)(you)較好的(de)測(ce)量精(jing)度。在有(you)(you)些檢(jian)(jian)(jian)測(ce)對象(xiang)中應(ying)用(yong)較好。
c. 缺(que)(que)陷(xian)的長(chang)(chang)度(du)檢(jian)測應(ying)(ying)該(gai)用點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列或點線組合(he)式探(tan)頭(tou)(tou)(tou) 點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)敏(min)感于(yu)缺(que)(que)陷(xian)的深度(du)，當采(cai)用點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列時(shi)，缺(que)(que)陷(xian)長(chang)(chang)度(du)覆蓋的通道數量可以反(fan)映其長(chang)(chang)度(du)信(xin)息；另一方面，當線檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)大于(yu)缺(que)(que)陷(xian)的長(chang)(chang)度(du)時(shi)，感應(ying)(ying)的是深度(du)和長(chang)(chang)度(du)的共同信(xin)息，如在其感應(ying)(ying)范(fan)圍內并列布置一個或多個點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)感受深度(du)信(xin)息，則裂紋的長(chang)(chang)度(du)就可以計算出(chu)來。
從信(xin)號處理角(jiao)度來看，點(dian)線組合(he)式(shi)探頭需要的(de)通(tong)道數量(liang)較(jiao)少，可以同時(shi)獲得缺(que)陷的(de)深度、長(chang)度、缺(que)失截面積(ji)等信(xin)息(xi)，具有較(jiao)強的(de)應用價(jia)值。
d. 斜(xie)向(xiang)(xiang)裂紋采用(yong)點檢(jian)探頭陣列檢(jian)測(ce)(ce) 在(zai)漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)中(zhong)，當缺陷(xian)走向(xiang)(xiang)與(yu)磁(ci)化場(chang)方向(xiang)(xiang)不垂直時，漏磁(ci)場(chang)的(de)強度(du)將降低，從而獲得較小的(de)信號幅值(zhi)。因此，斜(xie)向(xiang)(xiang)缺陷(xian)的(de)檢(jian)測(ce)(ce)與(yu)評估，需要首先檢(jian)測(ce)(ce)出裂紋的(de)走向(xiang)(xiang)，并且根據走向(xiang)(xiang)修正漏磁(ci)場(chang)信號幅度(du)，再(zai)進行深度(du)判(pan)別。
另一(yi)方面，當探頭掃(sao)查路徑垂直于缺陷(xian)(xian)走(zou)向時(shi)(shi)，檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)值(zhi)最大(da)；隨著(zhu)兩者(zhe)夾角(jiao)不斷減小，檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)值(zhi)逐漸(jian)降低，同時(shi)(shi)信(xin)號(hao)(hao)特(te)性也(ye)將發生明顯(xian)變化。此時(shi)(shi)，線檢(jian)(jian)探頭的(de)檢(jian)(jian)測信(xin)號(hao)(hao)特(te)性變化很大(da)，點檢(jian)(jian)探頭的(de)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)度波(bo)動(dong)卻(que)很小。因此，可利用點檢(jian)(jian)探頭陣列(lie)中(zhong)各通道獲得(de)最大(da)幅(fu)值(zhi)的(de)時(shi)(shi)間差異來推算缺陷(xian)(xian)走(zou)向，為后續(xu)的(de)信(xin)號(hao)(hao)補償與缺陷(xian)(xian)判別奠定(ding)基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)(lou)(lou)磁設備的(de)(de)(de)(de)(de)檢測能力與探頭(tou)芯結構密切相關，從目前應(ying)用(yong)情(qing)況來(lai)看(kan)，漏(lou)(lou)(lou)磁檢測方法(fa)對內外(wai)部(bu)腐蝕坑、內外(wai)部(bu)周／軸向裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)均有(you)較好的(de)(de)(de)(de)(de)檢測精度，同時，對斜(xie)向裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)具有(you)一定(ding)的(de)(de)(de)(de)(de)檢測能力。但(dan)是(shi)，漏(lou)(lou)(lou)磁檢測方法(fa)對微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)，如初期的(de)(de)(de)(de)(de)疲(pi)勞裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、熱處理的(de)(de)(de)(de)(de)應(ying)力裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)、軋制時的(de)(de)(de)(de)(de)微機械裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)和折疊不(bu)太敏感。究其原因，微裂(lie)(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)開(kai)口均小于(yu)0.05mm，漏(lou)(lou)(lou)磁場強(qiang)度較低，因此(ci)，有(you)必要輔以渦流、超聲等(deng)其他(ta)檢測方法(fa)。
我國進口漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)設(she)備(bei)采用的(de)基本都是(shi)基于(yu)線(xian)圈的(de)線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭，這(zhe)種配(pei)置(zhi)需要的(de)信(xin)號(hao)通(tong)道(dao)數量相對較少(shao)、探(tan)靴(xue)的(de)有效覆蓋范圍大。但(dan)是(shi)，這(zhe)種方式對缺陷(xian)的(de)深(shen)度評定(ding)需要一定(ding)的(de)輔助條件，而且(qie)對斜向(xiang)缺陷(xian)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)靈(ling)敏度較低。
在具體應(ying)用(yong)過程(cheng)中，首先應(ying)分析檢(jian)(jian)測要(yao)求和對象(xiang)特點(dian)，其次要(yao)認識探(tan)(tan)頭芯的(de)形式和結構。總的(de)來講，采(cai)用(yong)線檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)(jian)測線狀缺(que)陷的(de)深度信息和采(cai)用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去評定點(dian)狀缺(que)陷的(de)長(chang)度信息均是不現實(shi)的(de)；高精度的(de)檢(jian)(jian)測需要(yao)以大量的(de)獨立測量通道和信號處(chu)理系統為代價(jia)，因此(ci)，應(ying)根據(ju)檢(jian)(jian)測目標綜合權(quan)衡。
