無(wu)損檢(jian)測(ce)就是利用(yong)(yong)聲、光、磁(ci)和電等特性(xing),在不(bu)損害或(huo)不(bu)影響被(bei)(bei)檢(jian)對象使(shi)用(yong)(yong)性(xing)能的前提下(xia),檢(jian)測(ce)被(bei)(bei)檢(jian)對象中是否(fou)存在缺(que)陷(xian)或(huo)不(bu)均勻性(xing),給出缺(que)陷(xian)的大小、位置、性(xing)質和數量等信息,進而判(pan)定被(bei)(bei)檢(jian)對象所處技(ji)術狀態(如合格(ge)與否(fou)、剩余壽(shou)命等)的所有技(ji)術手段的總稱。常用(yong)(yong)的無(wu)損檢(jian)測(ce)方法:超聲檢(jian)測(ce)(UT)、磁(ci)粉檢(jian)測(ce)(MT)、液(ye)體滲(shen)透檢(jian)測(ce)(PT)及X射線檢(jian)測(ce)(RT)。
超聲(sheng)波(bo)檢測已經單獨詳細的介紹過了,下(xia)(xia)面就簡單地對剩下(xia)(xia)的三個進(jin)行(xing)介紹和對比。
首先(xian)來了解一下,磁(ci)(ci)粉檢測的原理。鐵磁(ci)(ci)性(xing)(xing)材料(liao)和(he)(he)工(gong)件被磁(ci)(ci)化(hua)后,由于不(bu)連續性(xing)(xing)的存(cun)在(zai),工(gong)件表(biao)面和(he)(he)近表(biao)面的磁(ci)(ci)力線發(fa)生(sheng)局部畸變,而產生(sheng)漏磁(ci)(ci)場,吸(xi)附(fu)施加在(zai)工(gong)件表(biao)面的磁(ci)(ci)粉,形(xing)成在(zai)合適光照下目視可見的磁(ci)(ci)痕,從而顯示出(chu)不(bu)連續性(xing)(xing)的位(wei)置、形(xing)狀和(he)(he)大小(xiao)。
磁粉檢測的適用性和局限性有:
1. 磁(ci)粉探傷適(shi)用于檢測(ce)鐵磁(ci)性材料(liao)表(biao)面(mian)和近表(biao)面(mian)尺寸很小、間隙極窄(zhai)目視難以(yi)看(kan)出的不連續性。
2. 磁粉檢測可(ke)對多種(zhong)情況下(xia)的零部(bu)件檢測,還(huan)可(ke)多種(zhong)型件進行檢測。
3. 可發現裂(lie)紋、夾雜、發紋、白點、折疊、冷(leng)隔和疏(shu)松等(deng)缺陷。
4. 磁粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)不能(neng)檢(jian)(jian)測(ce)奧(ao)氏(shi)體不銹鋼(gang)材(cai)料和(he)用奧(ao)氏(shi)體不銹鋼(gang)焊(han)條焊(han)接的焊(han)縫(feng),也不能(neng)檢(jian)(jian)測(ce)銅鋁鎂鈦等非磁性(xing)材(cai)料。對于表(biao)(biao)面淺(qian)劃傷、埋藏(zang)較深洞(dong)和(he)與工件表(biao)(biao)面夾角小于20°的分層和(he)折疊很難發現。
液體滲(shen)透檢測(ce)的(de)(de)基本原理,零(ling)件(jian)表面被(bei)施涂含(han)有熒光(guang)(guang)染料或(huo)著色染料后,在一段時(shi)間的(de)(de)毛細管(guan)作(zuo)用下,滲(shen)透液可以滲(shen)透進表面開口缺(que)陷(xian)中;經(jing)去除零(ling)件(jian)表面多(duo)余的(de)(de)滲(shen)透液后,再在零(ling)件(jian)表面施涂顯(xian)像劑,同(tong)樣,在毛細管(guan)的(de)(de)作(zuo)用下,顯(xian)像劑將吸引缺(que)陷(xian)中保留的(de)(de)滲(shen)透液,滲(shen)透液回滲(shen)到顯(xian)像劑中,在一定的(de)(de)光(guang)(guang)源下(紫外線光(guang)(guang)或(huo)白光(guang)(guang)),缺(que)陷(xian)處(chu)的(de)(de)滲(shen)透液痕(hen)跡被(bei)現實,(黃(huang)綠色熒光(guang)(guang)或(huo)鮮(xian)艷紅色),從(cong)而探測(ce)出缺(que)陷(xian)的(de)(de)形(xing)貌及(ji)分(fen)布狀(zhuang)態。
滲透檢測(ce)的優點(dian):1. 可(ke)檢(jian)測各種材料; 2. 具(ju)有(you)較高(gao)的靈敏度(du);3. 顯示直觀(guan)、操(cao)作方便、檢(jian)測費用低。
滲透檢測的(de)缺(que)點(dian):1. 不適于檢(jian)查多孔(kong)性疏(shu)松材料制成(cheng)的(de)(de)工件(jian)和表(biao)面粗糙的(de)(de)工件(jian);2. 滲透(tou)檢(jian)測只(zhi)能檢(jian)出缺(que)陷(xian)的(de)(de)表(biao)面分布,難(nan)以確定(ding)缺(que)陷(xian)的(de)(de)實際深度,因(yin)而很(hen)難(nan)對缺(que)陷(xian)做出定(ding)量評(ping)價(jia)。檢(jian)出結果受操作者的(de)(de)影響也較大。
最(zui)后一(yi)種,射(she)(she)(she)線(xian)檢測,是(shi)因(yin)(yin)為 X射(she)(she)(she)線(xian)穿(chuan)過被照(zhao)射(she)(she)(she)物體后會有(you)損耗,不同(tong)厚(hou)度不同(tong)物質對它們的(de)吸收率不同(tong),而底片放在被照(zhao)射(she)(she)(she)物體的(de)另(ling)一(yi)側,會因(yin)(yin)為射(she)(she)(she)線(xian)強(qiang)度不同(tong)而產(chan)生相(xiang)應的(de)圖形,評片人員(yuan)就可以根據影(ying)像來判斷物體內部的(de)是(shi)否有(you)缺(que)陷以及缺(que)陷的(de)性質。
射線檢測的(de)適用性和(he)局限性: 1. 對(dui)檢測體積型的(de)缺(que)(que)陷比較敏(min)感(gan),比較容易(yi)對(dui)缺(que)(que)陷進行定(ding)性。 2. 射線底片(pian)易(yi)于保留,有追溯性。3. 直觀顯示(shi)缺(que)(que)陷的(de)形狀和(he)類型。 4. 缺(que)(que)點不(bu)能定(ding)位缺(que)(que)陷的(de)埋藏深度(du),同時檢測厚度(du)有限,底片(pian)需專門(men)送洗,并且對(dui)人(ren)身體有一(yi)定(ding)害,成本較高。
總而(er)言之(zhi),超聲波(bo)、X射(she)(she)線探(tan)傷適用(yong)(yong)于(yu)探(tan)傷內(nei)部缺(que)陷(xian);其中(zhong)超聲波(bo)適用(yong)(yong)于(yu)5mm以上,且形(xing)狀規則(ze)的(de)部件(jian),X射(she)(she)線不能定(ding)位缺(que)陷(xian)的(de)埋藏深度,有輻射(she)(she)。 磁(ci)粉、滲(shen)(shen)透探(tan)傷適用(yong)(yong)于(yu)探(tan)傷部件(jian)表面(mian)缺(que)陷(xian);其中(zhong)磁(ci)粉探(tan)傷僅(jin)限(xian)于(yu)檢(jian)測(ce)磁(ci)性(xing)材料,滲(shen)(shen)透探(tan)傷僅(jin)限(xian)于(yu)檢(jian)測(ce)表面(mian)開(kai)口缺(que)陷(xian)。